ifSidLa - Entwicklung eines Verfahrens zur interferometrischen Schichtdickenmessung von dünnen, gedruckten Lackfilmen

In Kürze

Bei dem Offset-Druckvorgang ist die Bestimmung der verbrauchten Lackmengen und die Ermittlung der erzielten Schichtdicken bislang nicht systematisch untersucht.

Im Detail

Die Motivation für das Projekt liegt darin, Prozesssicherheit zu erzeugen und Qualitätseigenschaften abzusichern, die von der Schichtdicke abhängen, wie z. B. die Barriere-Eigenschaften, die Oberflächeneigenschaften und optische Effekte. Nicht sachgerechte Lackauftragsmengen oder Schwankungen der Lackauftragsmengen während des Auflagendrucks sollen erfassbar werden. Des Weiteren werden Folienlaminierungen zunehmend durch funktionelle Lacke ersetzt, die eine Kontrolle der Schichtdicken erfordern.

In einer Vorstudie am Fraunhofer IPA wurden verfügbare Messmethoden zur Inline-Schichtdickenbestimmung untersucht und technisch und wirtschaftlich eingeschätzt. Dabei zeigte sich, dass unter anderem das Messprinzip der Interferometrie am erfolgversprechendsten ist, um eine Inline-Schichtdickenbestimmung in Offset- und Flexodruckmaschinen zu ermöglichen.

Aufbauend auf der Vorstudie entwickelt das Fraunhofer IPA in Stuttgart gemeinsam mit dem Fraunhofer IPT in Aachen in einem öffentlich gefördertes Anschlussprojekt eine interferometrische Methode zur Lackschichtdickenmessung.

Das Projekt hat das Ziel, Schichtdicken oder Auftragsmengen von transparenten Lacken auf dem Druckbogen inline oder zeitnah nach Probebogenentnahme zu ermitteln.